A.單純的正弦波
B.有多種頻率成分的正弦波疊加而成的機(jī)械波
C.單純的余弦波
D.以上都可能
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A.波幅將增加或降低為原波高的1倍;
B.波幅將增加或降低為原波高的2倍;
C.波幅將增加或降低為原波高的3倍;
D.波幅將增加或降低為原波高的4倍。
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.相對靈敏度、時(shí)間域響應(yīng)、噪聲電平
B.聲軸偏斜角、聲束擴(kuò)展特征、距離幅度特征
C.頻率響應(yīng)、分辨力、入射點(diǎn)或折射角
D.以上都是
最新試題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。