A.探傷部位的厚度
B.磁極位置,間距
C.外磁場(chǎng)干擾
D.磁化規(guī)范
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A.(4~8)D
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A.外表面小,內(nèi)表面大
B.外表面大,內(nèi)表面小
C.內(nèi)外表面大,中向小
D.外內(nèi)表面小,中向大
A.相等的
B.縱波大于橫波
C.縱波小于橫波
D.與材料無(wú)關(guān)
A.頻率與波長(zhǎng)
B.彈性與密度
C.電阻與電導(dǎo)
D.厚度
最新試題
缺陷相對(duì)反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無(wú)機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測(cè)量精確,實(shí)時(shí)成像,快速分析。
對(duì)于比正常縱波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
檢測(cè)曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
無(wú)論聲波相對(duì)于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
超聲波檢測(cè)中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會(huì)受到影響。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
對(duì)于圓柱體而言,外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。