如下圖所示的N-S圖，至少需要（）個(gè)測(cè)試用例完成邏輯覆蓋。
A.12
B.48
C.27
D.18
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A.出錯(cuò)處理
B.全局?jǐn)?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)
C.獨(dú)立路徑
D.模塊接口
A.功能測(cè)試
B.單元測(cè)試
C.結(jié)構(gòu)測(cè)試
D.驗(yàn)收測(cè)試
A.判定－條件覆蓋
B.組合覆蓋
C.判定覆蓋
D.條件覆蓋
A.條件覆蓋
B.組合覆蓋
C.判定覆蓋
D.語(yǔ)句覆蓋
A.組合覆蓋
B.判定覆蓋
C.條件覆蓋
D.接口覆蓋
最新試題
測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。
下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）
關(guān)于混合漸增式testing的論述錯(cuò)誤的是（）。
敏捷開(kāi)發(fā)模型不適用于大型開(kāi)發(fā)項(xiàng)目。
代碼審查：是以審查小組運(yùn)行測(cè)試用例的形式進(jìn)行審查。
自動(dòng)化測(cè)試不能夠完全替代手工測(cè)試，但是自動(dòng)化測(cè)試自動(dòng)運(yùn)行速度快，手工測(cè)試無(wú)法比。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）
白盒測(cè)試作為一種基本測(cè)試方法，應(yīng)用廣泛，但（）不屬于該類方法。
下面對(duì)測(cè)試需求分析描述不正確的是（）
模擬負(fù)載測(cè)試需要通過(guò)一些參數(shù)的設(shè)定來(lái)實(shí)現(xiàn)，常見(jiàn)參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。