A.1200
B.經(jīng)濟(jì)管理學(xué)院
C.200
D.理學(xué)院
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A.算術(shù)平均數(shù)
B.調(diào)和平均數(shù)
C.幾何平均數(shù)
D.還應(yīng)有其它條件才能決定
A.四分位數(shù)間距
B.標(biāo)準(zhǔn)差
C.變異系數(shù)
D.全距
A.算術(shù)平均數(shù)和調(diào)和平均數(shù)
B.眾數(shù)或中位數(shù)
C.算術(shù)平均數(shù)和幾何平均數(shù)
D.調(diào)和平均數(shù)和幾何平均數(shù)
A.標(biāo)準(zhǔn)差不同
B.方差不同
C.數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)不同
D.計(jì)量單位不同
A.均數(shù)
B.標(biāo)準(zhǔn)差
C.中位數(shù)
D.幾何均數(shù)
最新試題
當(dāng)檢驗(yàn)?zāi)撑a(chǎn)品質(zhì)量時(shí),從這批產(chǎn)品中隨機(jī)每次抽取一件,共抽n次,而抽出每一件后均不放回到這批產(chǎn)品中去。那么共抽取n件產(chǎn)品試驗(yàn)中恰好有k件不合格品的概率服從()。
假設(shè)檢驗(yàn)的決策依據(jù)是()。
有趨勢的時(shí)間序列預(yù)測應(yīng)用()和()。
許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從()。它在()研究中是最常用的一種分布形式。
影響時(shí)間序列的因素包括()、()、()和()。
一元線性回歸用于研究一個(gè)()和一個(gè)()之間的統(tǒng)計(jì)關(guān)系。
時(shí)間序列分為()、()和()。
相關(guān)關(guān)系按照相關(guān)的方向不同分為()和();按照相關(guān)形式不同分為()和();按相關(guān)程度分為()、()和()。
獨(dú)立重復(fù)試驗(yàn)中,試驗(yàn)首次成功所需的試驗(yàn)次數(shù)服從()。
點(diǎn)估計(jì)的評價(jià)準(zhǔn)則包括()、()和()等。