A.中位數(shù)
B.算術(shù)均數(shù)
C.調(diào)和均數(shù)
D.幾何均數(shù)
E.眾數(shù)
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A.標(biāo)準(zhǔn)差
B.標(biāo)準(zhǔn)誤
C.變異系數(shù)
D.全距
A.線圖
B.餅圖
C.直條圖
D.直方圖
最新試題
在產(chǎn)品抽樣檢驗(yàn)和控制圖分析中經(jīng)常用到()。
()用于方差分析、協(xié)方差分析和回歸分析等。
依據(jù)(),來自不同總體的樣本均值的抽樣分布,隨著樣本容量的逐漸增加,趨于一種分布——()。
絕對數(shù)時間序列分為()和()。
假設(shè)檢驗(yàn)的決策依據(jù)是()。
影響時間序列的因素包括()、()、()和()。
最小二乘法預(yù)測模型包括()、()和()。
許多電子產(chǎn)品的壽命分布一般服從()。它在()研究中是最常用的一種分布形式。
()為小樣本分布,應(yīng)用在當(dāng)對呈正態(tài)分布的總體的均值進(jìn)行估計(jì)。
列聯(lián)表是()變量進(jìn)行交叉分類的頻數(shù)分布表,它包含有()頻數(shù)和()頻數(shù)。卡方檢驗(yàn)通常被用來檢驗(yàn)列聯(lián)表()。