問答題

一個用于檢驗平板厚度均勻性的裝置如圖所示,光闌D用于限制平板上的受光面積,通過望遠(yuǎn)鏡可以觀察平板不同部位產(chǎn)生的干涉條紋(平板可相對光闌平移)。

所用光源的光譜寬度為0.06nm,平均波長為600nm,問能檢驗多厚的平板(n=1.52)?

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