單項(xiàng)選擇題當(dāng)工件厚度較大時(shí)，選用小K值，以減少聲程過(guò)大引起的（），便于發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)區(qū)缺陷。

A.衰減
B.擴(kuò)散
C.繞射
D.反射


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1.單項(xiàng)選擇題按照盡可能聲束與缺陷垂直的原則，選擇探頭主要考慮所測(cè)試件的結(jié)構(gòu)和（）。

A.材質(zhì)
B.厚度
C.形狀
D.晶粒結(jié)構(gòu)

2.單項(xiàng)選擇題斜探頭主要用于探測(cè)與探測(cè)面（）或成一定角度的缺陷。

A.平行
B.垂直
C.傾斜
D.一致

3.單項(xiàng)選擇題斜探頭是通過(guò)（）來(lái)實(shí)現(xiàn)橫波探傷的。

A.波形轉(zhuǎn)換
B.斜射
C.反射
D.折射

4.單項(xiàng)選擇題鋼中縱波的聲速約為橫波聲速的（）倍。

A.2
B.1.8
C.1.6
D.1.5

5.單項(xiàng)選擇題使發(fā)射探頭的晶片獲得突發(fā)性能童的電路稱(chēng)為（）。

A.脈沖發(fā)生器
B.接收放大器
C.衰減器
D.同步發(fā)生器