A.破裂
B.冷隔
C.分層
D.氣孔
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.電路圖
B.設(shè)計(jì)圖
C.方塊圖
D.上述三種都不對(duì)
A.界面反射幅度
B.多次反射圖形
C.所有的界面反射
D.上述三種都不對(duì)
A.縱波
B.橫波
C.由折射定律得到
D.在一定材料中聲速與所有波形無關(guān)
A.鋯鈦酸鉛
B.石英
C.鈦酸鋇
D.鎳
A.1.5mm
B.0.05mm
C.0.8mm
D.隨晶片直徑變化
最新試題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。