A.50%
B.90%
C.0
D.1%
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A.聲阻抗相差大
B.聲阻抗相差小
C.衰減小
D.聲速相差小
A.線狀?yuàn)A渣
B.與探測(cè)面垂直的大而平的缺陷
C.密集氣孔
D.未焊透
A.在整個(gè)探測(cè)表面上保持水距一致
B.保證最大水距
C.保證聲束的入射角橫定為15º
D.保證聲束對(duì)探測(cè)面的角度為5º
A.導(dǎo)致熒光屏圖像中失去底面回波
B.難以對(duì)平行于入射面的缺陷進(jìn)行定位
C.通常表示在金屬中存在疏松狀態(tài)
D.減小試驗(yàn)的穿透力
A.10mm
B.4密碼
C.1個(gè)波長(zhǎng)
D.4倍波長(zhǎng)
最新試題
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
儀器水平線性影響()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
單探頭法容易檢出()。