A.不太高頻率的探頭
B.較高頻率的探頭
C.硬保護(hù)膜探頭
D.上述三種均無(wú)需考慮
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A.越高越好
B.越低越好
C.不太高的頻率
D.較尋常為高的頻率
A.面積大的,當(dāng)量也一定大
B.面積大的,當(dāng)量不一定比面積小的為大
C.面積大的,當(dāng)量反而要比面積小的要小
D.它們的當(dāng)量相等
A.聚焦探頭
B.直探頭
C.斜探頭
D.串列雙斜探頭
A.四倍
B.6dB
C.12dB
D.9dB
A.一倍
B.9dB
C.12dB
D.124dB
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
()是影響缺陷定量的因素。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。