A.CSK-IA
B.CSK-IIA
C.CSK-IIIA
D.CSK-IVA
E.以上都是
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A.前后掃查
B.左右掃查
C.轉(zhuǎn)角與環(huán)繞掃查
D.以上都是
A.5-10mm
B.10-20mm
C.根據(jù)母材厚度30％計(jì)算
D.以上都是
A.校準(zhǔn)后的探頭粘合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)
B.檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃描靈敏度有變化時(shí)
C.連續(xù)工作四小時(shí)以上時(shí)
D.工作結(jié)束時(shí)
E.以上都是
A.一星期
B.一個(gè)月
C.三個(gè)月
D.六個(gè)月
A.百分之十
B.百分之十五
C.百分之二十
D.百分之二十五
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。