單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:每隔()至少對儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測定。
A.每周
B.每個月
C.三個月
D.半年
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1.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:探頭的掃查速度不應(yīng)超過(),當(dāng)采用自動報(bào)警裝置時,不受此限。
A.100mm/s
B.150mm/s
C.200mm/s
D.50mm/s
2.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:探頭每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的()
A.5%
B.10%
C.15%
D.20%
3.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于()
A.±5%
B.±10%
C.±15%
D.±20%
4.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:晶片面積一般不大于(),且任一邊長原則上不大于25mm。
A.250mm2
B.400mm2
C.500mm2
D.625mm2
5.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:水平線性誤差不大于()
A.1%
B.0.5%
C.2%
D.5%
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型:單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:單項(xiàng)選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
題型:單項(xiàng)選擇題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型:單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲波儀時基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
題型:單項(xiàng)選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
題型:單項(xiàng)選擇題