A.36dB
B.38dB
C.41dB
D.45dB
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A.△dB=20 lg2λT/πØ2
B.△dB=10 lg2λT/πØ2
C.△dB=20 lgπØ2/2λT
D.△dB=10 lgπØ2/2λT
A.底面橫波發(fā)射法
B.對(duì)比試塊法
C.計(jì)算法
D.心算法
A.5%
B.10%
C.15%
D.20%
A.100mm/s
B.150mm/s
C.200mm/s
D.250mm/s
A.最終熱處理之前
B.最終熱處理之后
C.熱處理前、后
D.以上都不是
最新試題
超聲檢測對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低,()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。