單項(xiàng)選擇題GB/T7233-87標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定;探傷面上進(jìn)行掃查時(shí),相鄰兩次掃查應(yīng)相互重疊為約晶片尺寸的()

A.10%
B.15%
C.20%
D.以上都可以


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最新試題

用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。

題型:單項(xiàng)選擇題

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。

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()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測(cè)。

題型:單項(xiàng)選擇題

單探頭法容易檢出()。

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利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。

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底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

題型:單項(xiàng)選擇題

實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。

題型:單項(xiàng)選擇題

()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。

題型:單項(xiàng)選擇題

測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的()。

題型:單項(xiàng)選擇題

當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。

題型:單項(xiàng)選擇題