A.粗晶散射
B.對(duì)聲能的粘滯吸收極強(qiáng)
C.用高頻時(shí)有草叢回法
D.三種原因都有
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A.垂直平探頭
B.高頻斜探頭
C.縱波雙晶探頭
D.三種探頭都可以
A.1/2
B.1/3
C.4倍
D.1/5
A.確定缺陷位置
B.確定缺陷的取向
C.減少草叢回波
D.上述三種優(yōu)點(diǎn)都具備
A.高于20兆赫
B.低頻
C.等于重復(fù)頻率
D.高于紫外線的頻率
A.一致
B.不一致
C.儀器的帶寬小于探頭的頻譜寬度
D.上述三種都可以
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
單探頭法容易檢出（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。