單項(xiàng)選擇題探頭與被檢工件表面直接接觸的方法，可用來作（）。

A、垂直法探傷
B、表面波探傷
C、斜射法探傷
D、上述三者都可


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1.單項(xiàng)選擇題使用與探測面相垂直的超聲波束進(jìn)行探傷的方法，稱為（）。

A、垂直法
B、共振法
C、穿透法
D、斜射法

2.單項(xiàng)選擇題探頭晶片與試件探測面不平行的超聲波探傷法，稱為（）。

A、斜射法
B、水浸法
C、接觸法
D、穿透法

3.單項(xiàng)選擇題能發(fā)現(xiàn)缺陷，但一般情況下不能測出它們深度的探傷方法是（）。

A、垂直法
B、斜射法
C、穿透法
D、水浸法

4.單項(xiàng)選擇題有缺陷存在，但不會在儀器示波屏上顯示缺陷回波的探傷方法，稱為（）。

A、垂直法
B、表面波法
C、斜射法
D、穿透法