多項選擇題時基器產(chǎn)生的時基線是用來測定（）的.
A.缺陷位置
B.回波時間
C.回波高度
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1.多項選擇題直探頭輻射透入試件的波（）
A.只能是縱波
B.也可以是橫波
C.也可以是表面波或板波
2.多項選擇題儀器的測量范圍可通過（）開關(guān)來調(diào)節(jié).
A.水平
B.延遲
C.掃描粗調(diào)
D.掃描細調(diào)
3.多項選擇題儀器放大器的增益愈大，表示（）
A.靈敏度愈高
B.靈敏度愈低
C.愈能檢出小缺陷
4.多項選擇題除缺陷的大小和聲程外，影響缺陷波高的缺陷自身因素有（）
A.缺陷取向
B.缺陷形狀
C.缺陷類型
D.缺陷的表面粗糙度
5.多項選擇題探傷和探傷靈敏度調(diào)節(jié)應(yīng)使用（）的耦合劑.
A.同種
B.聲阻抗相同
C.聲速相同