A、大于φ4平底孔
B、小于φ4平底孔
C、等于φ4平底孔
D、A與C
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A、大于φ4平底孔
B、小于φ4平底孔
C、等于φ4平底孔
D、不確定
A、平面波
B、球面波
C、活塞波
D、脈沖波
A、散射衰減
B、吸收衰減
C、擴(kuò)散衰減
D、上述都對(duì)
A、一次波
B、二次波
C、一、二次波
D、三次波
A、向外偏10°
B、偏角為0°
C、向外偏15°
D、外偏8°
最新試題
剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對(duì),用軌顎校對(duì)法校對(duì)時(shí),需在鋼軌表面校對(duì)的靈敏度的基礎(chǔ)上增加()。
根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因,可知其具有從()逐步擴(kuò)展的特點(diǎn)。
金相也可通過(guò)掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得,他們主要是用來(lái)觀察材料的位錯(cuò),放大倍數(shù)一般為()倍。
探傷中如遇焊補(bǔ)層下異常回波可采?。ǎ┑确椒ㄟM(jìn)行校對(duì)。
核對(duì)軌頭剝離層下的傷損一般采用()。
耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上,有足夠的浸潤(rùn)性以排除()之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。
由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同,可能缺陷的()不一樣,因而探測(cè)面可能是試件的所有面,也可能是其中的幾個(gè)面,甚至只有一個(gè)可探測(cè)面。
探傷中采用軌頭側(cè)面校對(duì)法,它主要適用于()的校對(duì)。
在橫波探傷中,探頭K值對(duì)探傷()有較大的影響。
焊縫探傷中斜探頭K值的選擇原則是()。