問(wèn)答題超聲波檢測(cè)儀的主要性能指標(biāo)有哪些？
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1.問(wèn)答題超聲波檢測(cè)儀的“抑制”旋鈕有什么作用？
2.問(wèn)答題超聲波檢測(cè)儀的接收電路主要由哪幾部分組成？
3.問(wèn)答題超聲波檢測(cè)儀發(fā)射電路中的阻尼電阻有什么作用？
4.問(wèn)答題簡(jiǎn)述超聲波檢測(cè)儀中，同步電路的主要作用？
最新試題
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
題型：判斷題
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈，其阻抗變大的情況有（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。
題型：判斷題
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求，經(jīng)表面檢驗(yàn)合格，申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
題型：判斷題
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé)，對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定，需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí)，X光室應(yīng)予以配合。
題型：判斷題
射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是（），必須嚴(yán)加控制。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
觀察底片時(shí)，為能識(shí)別缺陷圖像，缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
題型：判斷題
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
題型：判斷題
對(duì)含有內(nèi)穿過(guò)式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中，正確的是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題