單項選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的Φ50孔改為Φ40、Φ44、Φ50臺階孔，其目的是（）
A、測定斜探頭K值
B、測定直探頭盲區(qū)范圍
C、測定斜探頭分辨力
D、以上全是
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最新試題
檢測申請時工序狀態(tài)應清楚、工序質(zhì)量應符合工序質(zhì)量要求，檢驗蓋章確認，確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
題型：判斷題
射線檢測最有害的危險源是（），必須嚴加控制。
題型：單項選擇題
X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應標注，確保定位準確。
題型：判斷題
觀察底片時，為能識別缺陷圖像，缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應不小于識別閾值。
題型：判斷題
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
題型：判斷題
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應作出規(guī)定，檢驗監(jiān)控確認，檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點，否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
題型：判斷題
超差缺陷是否排除，由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認可后送X光檢測。
題型：判斷題
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
題型：判斷題
按輻射安全管理規(guī)定，輻射作業(yè)場所每周應進行一次輻射劑量檢測。
題型：判斷題
在射線照相檢驗中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
題型：判斷題