A、質(zhì)子數(shù)加中子數(shù)
B、質(zhì)子數(shù)加電子數(shù)
C、中子數(shù)加電子數(shù)
D、原子序數(shù)
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A、中子
B、電子
C、質(zhì)子
D、光子
A.原子的重量
B.原子的質(zhì)子、中子與電子數(shù)的總和
C.原子核中質(zhì)子與中子數(shù)的總和
D.以上都是
A、質(zhì)子
B、中子
C、質(zhì)子加中子
D、電子
A、核中的質(zhì)子數(shù)
B、核中的中子數(shù)
C、核中的質(zhì)子與中子數(shù)之和
D、質(zhì)量
描述放射性衰變規(guī)律的數(shù)學(xué)表達(dá)式為()(式中N為經(jīng)過(guò)時(shí)間t后尚未衰變的原子數(shù)目,N0為t=o時(shí)的原子數(shù)目,λ為衰變常數(shù))
A、N=N0e-λt
B、N=N0e-λt
C、N=N0e-λt
D、N=N0e-λt
最新試題
關(guān)于近場(chǎng)長(zhǎng)度的說(shuō)法,正確的是()
在近場(chǎng)以外的部分,即聲程大于3N的遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為()
焊縫超聲波探傷時(shí),當(dāng)探頭作定點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)或環(huán)繞運(yùn)動(dòng)是為了()
直射法探傷時(shí)試件的探測(cè)面應(yīng)選在與缺陷最大表面()
散射比的大小與()因素有關(guān)。
射線照像底片產(chǎn)生黃色灰霧,其原因是()
射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
在探傷靈敏度確定后,缺陷的當(dāng)量大?。ǎ?/p>
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用()