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判斷題千分表測砧與測微螺桿測量面的相對偏移的檢定是在平板上用杠桿百分表進行，對于測量范圍大于30mm的千分尺用百分表檢定。

1.判斷題千分尺測微螺桿與測砧兩軸線間偏差不能太大，否則會影響千分尺的準確度。

2.判斷題檢定千分表工作面的平面度用二級平晶用技術(shù)光波干涉法檢定。

3.判斷題檢定千分尺微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離在工具顯微鏡上檢定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻線表面上用比較法檢定。

4.判斷題千分尺刻線寬度及寬度差是在工具顯微鏡上檢定。微分筒或刻線盤上的刻線寬度至少任意抽二條刻線。

5.判斷題檢定千分尺的測力，用分度值不大于0.2N的專用測力計檢定。檢定時，使工作面與測力計的球工作面接觸后進行。