單項選擇題某一量具工作面的平面度，若在白光情況下用平晶以技術光波干涉法檢定時，受檢工作面的平面度一般不大于（）
A.0.01mm
B.0.02um
C.0.03um
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1.單項選擇題以技術光波干涉法檢定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2級平晶，其工作面的平面度不大于（）
A.0.03um
B.0.05um
C.0.10um
2.單項選擇題游標高度尺的用途，除測量高度外，還用于劃線，那么劃線用的量爪，其刃口厚度為（）
A.0.15±0.05mm
B.0.10±0.05mm
C.0.20±0.05mm
3.單項選擇題游標深度尺的刻線寬度大小，對讀數(shù)正確性有一定的影響，對于分度值0.05mm游標深度尺來說，其刻線寬度為（）
A.0.08~0.12mm
B.0.08~0.20mm
C.0.08~0.15mm
4.單項選擇題用刀口尺/樣板直尺檢定工作面的平面度時，通常以光隙法進行，當采用此法檢定時，其間隙量一般不大于（）
A.0.010mm
B.0.005mm
C.0.003mm
5.單項選擇題千分尺的準確度分為（）
A.0級和1級
B.1級和2級
C.0級、1級和2級
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