問(wèn)答題簡(jiǎn)述X射線管結(jié)構(gòu)和各部分作用。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.問(wèn)答題與X射線探傷相比,γ射線探傷有哪些優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)?
2.問(wèn)答題什么叫半價(jià)層?它在檢測(cè)中有哪些應(yīng)用?
3.問(wèn)答題什么叫放射性同位素的半衰期?它在射線檢測(cè)中有什么用處?
4.問(wèn)答題什么叫射線的線質(zhì)?連續(xù)X射線的線質(zhì)怎樣表示?
5.問(wèn)答題射線可分為哪幾類,用于工業(yè)探傷的射線有哪幾種?
最新試題
二次打底焊接或重熔排除,無(wú)需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。
題型:判斷題
缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
題型:判斷題
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
題型:判斷題
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
題型:判斷題
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
題型:判斷題
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
題型:判斷題
射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
題型:判斷題
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。
題型:判斷題