A．電流：符號-I，單位-安培；
B．磁導(dǎo)率：符號-μ，單位-亨利/米；
C．磁通密度：符號-B，單位-高斯，國際單位制單位-特斯拉；
D．磁場強(qiáng)度：符號-H，單位-奧斯特，國際單位制單位-安/米；
E．以上都對
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A．電場強(qiáng)度；
B．磁感應(yīng)強(qiáng)度；
C．磁場強(qiáng)度；
D．磁通量
A．電場強(qiáng)度；
B．磁感應(yīng)強(qiáng)度；
C．磁場強(qiáng)度；
D．磁通量
A、鐵磁性材料有磁滯現(xiàn)象
B、隨著含碳量增高，矯頑力增大
C、鐵磁性材料的磁導(dǎo)率μ遠(yuǎn)大于1，它是與外磁場變化無關(guān)的常數(shù)
D、鐵磁性材料比順磁性材料較難達(dá)到飽和狀態(tài)
E、A和B都對
A．磁導(dǎo)率略小于1的材料；
B．磁導(dǎo)率遠(yuǎn)大于1的材料；
C．磁導(dǎo)率接近于1的材料；
D．磁導(dǎo)率等于1的材料
A．材料被磁化的難易程度；
B．材料中磁場的穿透深度；
C．工件需要退磁時間的長短；
D．保留磁場的能力
最新試題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：檢測后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件，一般可不進(jìn)行退磁。
用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強(qiáng)度有關(guān)，還受被檢工件材質(zhì)的影響。
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測時一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時應(yīng)用2～10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光，即可判定磁懸液污染。
一般說來，進(jìn)行了周向磁化工件的退磁，應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：采用軸向通電法和觸頭法磁化時，為了防止電弧燒傷工件表面，應(yīng)將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導(dǎo)電物質(zhì)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測的工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其它粘附磁粉的物質(zhì)。