A.安培數(shù);
B.安匝數(shù);
C.瓦特?cái)?shù);
D.歐姆數(shù)
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你可能感興趣的試題
A.周向磁場(chǎng);
B.縱向磁場(chǎng);
C.與電流類型有關(guān);
D.間歇磁場(chǎng)
A.可增大磁通密度;
B.有助于加熱從而有利于磁感應(yīng);
C.增大接觸面積,減少燒傷零件的可能性
D.有助于提高零件上的電流強(qiáng)度
A.夾頭法通電;
B.觸頭法通電;
C.中心導(dǎo)體法;
D.以上都是
A.電流方向與缺陷一致;
B.磁場(chǎng)與缺陷垂直;
C.怎么通電都一樣;
D.磁場(chǎng)平行于缺陷
A.螺線形的;
B.周向的;
C.縱向的;
D.畸變的不規(guī)則形狀
最新試題
在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光,即可判定磁懸液污染。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響,僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。
在工件內(nèi)部的剩磁,周向磁化要比縱向磁化大的多。
干磁粉可采用手動(dòng)或電動(dòng)噴粉器以及其他合適的工具來施加,施加時(shí)磁粉應(yīng)厚些撒在工件表面上。
打亂材料磁疇排布的兩種方法是:加熱到居里點(diǎn)溫度以上熱處理退磁法和反磁場(chǎng)退磁法。
對(duì)于交流線圈,線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度不僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān),還受被檢工件材質(zhì)的影響。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:檢測(cè)后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件,一般可不進(jìn)行退磁。
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)的系統(tǒng)靈敏度,確定被檢工件的磁化規(guī)范。