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A.顯極;
B.飽和點(diǎn);
C.剩磁點(diǎn);
D.殘留點(diǎn)
A.絕對(duì)靈敏度;
B.相對(duì)靈敏度;
C.對(duì)比靈敏度;
D.以上都是
A.縱向磁化;
B.周向磁化;
C.高充填因數(shù)線圈磁化;
D.以上都不是
A.縱向磁化;
B.軸向磁化;
C.向量磁化;
D.平行磁化
A.連續(xù)法;
B.剩磁法
最新試題
對(duì)于交流線圈,線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
一般說來,進(jìn)行了周向磁化工件的退磁,應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度不僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān),還受被檢工件材質(zhì)的影響。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:采用軸向通電法和觸頭法磁化時(shí),為了防止電弧燒傷工件表面,應(yīng)將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導(dǎo)電物質(zhì)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的水?dāng)嘣囼?yàn),主要是用來檢驗(yàn)水磁懸液對(duì)被檢表面的潤(rùn)濕性能,只有出現(xiàn)裸露的“水?dāng)唷北砻?,才可以開始磁粉檢測(cè)。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響,僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。
在不退磁的情況下,周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。