判斷題探頭晶片尺寸增加，近場區(qū)長度增加，對探傷不利。
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由于超聲波有擴散衰減，所以超聲波檢驗盡可能在近場區(qū)進行。
題型：判斷題
超聲平面波不存在材質衰減。
題型：判斷題
超聲波垂直入射到兩種介質的界面上，其聲壓反射率和聲壓透射率之和為1。
題型：判斷題
探頭芯片輻射的縱波，其中心軸在線輻射聲壓與芯片直徑，聲程成正比。
題型：判斷題
超聲波垂直入射時，界面兩側介質聲阻抗相差越小，聲壓往復透過率越低。
題型：判斷題
對順磁性，逆磁性的工件，通常采用磁粉探傷方法檢測。
題型：判斷題
超聲波在介質中的傳播速度即為質點的振動速度。
題型：判斷題
超聲波在介質傳播時，質點的振動速度就是傳播速度。
題型：判斷題
液浸探傷，調整工件表面與探頭的距離是使聲波在水中傳播時間和在工件中傳播時間相等。
題型：判斷題
超聲探傷，能夠探測的缺陷尺寸，一般不小于一個波長。
題型：判斷題