判斷題發(fā)射電路是產(chǎn)生高頻振蕩脈沖，用于激勵探頭晶片產(chǎn)生超聲脈沖。
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垂直法局部掃查即探頭在整個面上按規(guī)定，并事先劃出的線上移動，相鄰掃查線的間距往往（）探頭直徑。
題型：單項選擇題
垂直法探傷時，對要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。
題型：多項選擇題
在探傷中選用較高的頻率，將會使得（）因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強(qiáng)，可提高對缺陷的定位精度。
題型：多項選擇題
探傷掃查過程中，探頭的方向應(yīng)根據(jù)（）進(jìn)行布局和掃查。
題型：單項選擇題
剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。
題型：單項選擇題
通用儀器對焊補(bǔ)層的下核傷是以核傷最高反射回波的80%再增益12dB作為校對靈敏度，以最大回波顯示的刻度來確定（）。
題型：單項選擇題
焊縫探傷中斜探頭K值的選擇原則是（）。
題型：多項選擇題
使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導(dǎo)致（）。
題型：單項選擇題
采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。
題型：單項選擇題
金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯，放大倍數(shù)一般為（）倍。
題型：單項選擇題