A、各并聯(lián)電容量的倒數(shù)和;
B、各并聯(lián)電容量之和;
C、各并聯(lián)電容量的和之倒數(shù);
D、各并聯(lián)電容量之倒數(shù)和的倒數(shù)。
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、可直接;
B、可間接;
C、并通過計(jì)算可;
D、不能。
A、250kΩ;
B、240kΩ;
C、250Ω;
D、240Ω。
A、105℃;
B、110℃;
C、120℃;
D、130℃。
A、磁電;
B、整流;
C、電動(dòng);
D、電磁。
A、×0.001;
B、×0.01;
C、×0.1;
D、×1。
最新試題
絕緣電阻測(cè)試時(shí),若測(cè)得絕緣電阻值過低或三相不平衡,應(yīng)進(jìn)行分解試驗(yàn),查明絕緣不良部分。
電容電感測(cè)試儀測(cè)試電容器組的總電容量,將鉗形電流傳感器套在電容器組的高壓側(cè)匯流排上即可。
測(cè)量絕緣子絕緣電阻是檢查絕緣子絕緣狀態(tài)最簡(jiǎn)便和最基本方法
對(duì)10kV集合式并聯(lián)電容器進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試時(shí),只需測(cè)試前對(duì)電容器單元放電即可,測(cè)試后可不需放電。
懸式絕緣子交流耐壓試驗(yàn),當(dāng)試驗(yàn)電壓較高時(shí),可采用串級(jí)式試驗(yàn)變壓器。
斷路器回路電阻測(cè)試過程中若測(cè)試電流無法升至100A,則應(yīng)立即取下測(cè)試夾鉗檢查回路是否接好。
泄漏電流試驗(yàn)對(duì)于發(fā)掘絕緣的缺陷比絕緣電阻試驗(yàn)更為靈敏和有效。
真空斷路器回路電阻測(cè)試是破壞性試驗(yàn),會(huì)對(duì)斷路器造成不可逆損傷。
由于帶電設(shè)備與停電設(shè)備之間的電導(dǎo)耦合,使停電設(shè)備有一定電壓等級(jí)的感應(yīng)電壓,對(duì)絕緣電阻測(cè)量影響較大。
變壓器變比測(cè)試后可以不需對(duì)變壓器進(jìn)行放電。