A.發(fā)射線半寬度小于吸收線半寬度，發(fā)射線的中心頻率與吸收線的中心頻率重合
B.發(fā)射線半寬度大于吸收線半寬度，發(fā)射線的中心頻率與吸收線的中心頻率重合
C.發(fā)射線半寬度大于吸收線半寬度，發(fā)射線的中心頻率小于吸收線的中心頻率
D.發(fā)射線半寬度小于吸收線半寬度，發(fā)射線的中心頻率小于吸收線的中心頻率
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A.LaCl3
B.NaCl
C.丙酮
D.CHCl3
A.物理干擾
B.化學(xué)干擾
C.電離干擾
D.背景吸收
A.標(biāo)準(zhǔn)曲線法
B.標(biāo)準(zhǔn)加入法
C.內(nèi)標(biāo)法
D.直接比較法
A.空心陰極燈
B.原子化系統(tǒng)
C.分光系統(tǒng)
D.檢測系統(tǒng)
A.原子化效率高
B.光源發(fā)出的特征輻射只能被特定的基態(tài)原子所吸收
C.檢測器靈敏度高
D.原子蒸汽中基態(tài)原子數(shù)不受溫度影響
最新試題
在AAS測試中，火焰原子化時(shí)，通常通過調(diào)節(jié)燃燒器高度來控制光束通過火焰的電離、化合區(qū)域。
采用外標(biāo)法檢測樣品時(shí)，對進(jìn)樣量的準(zhǔn)確性沒有要求，不適用于大批量試樣的快速分析。
自然變寬和同位素變寬是原子固有的性質(zhì)所引起，可設(shè)法消除。
在AAS測試中的物理干擾可通過配制與試樣具有相似組成的標(biāo)準(zhǔn)溶液或標(biāo)準(zhǔn)加入法來克服。
在AAS測試中，石墨爐原子化時(shí)，灰化的的目的是去除基體，尤其是有機(jī)質(zhì)的去除。在不損失待測原子時(shí)，使用盡可能高的溫度和長的時(shí)間。
色譜流出曲線圖是將待分離組分經(jīng)過色譜柱的分離后進(jìn)入檢測器，以檢測器檢測到的響應(yīng)信號為橫坐標(biāo)，時(shí)間或流動(dòng)相的體積為縱坐標(biāo)所得的曲線圖。
消除AAS測試中的電離干擾可采用適當(dāng)控制火焰溫度，加入消電離劑（主要為堿金屬元素）等來抑制待測原子的電離。
在AAS測試中，火焰原子化時(shí)，通常調(diào)節(jié)霧化器可以改變和控制進(jìn)樣速度。
軟電離離子化能量高，分子離子的碎片信息豐富，提供的分子官能團(tuán)等結(jié)構(gòu)信息。
離子選擇性電極的校準(zhǔn)曲線的直線部分所對應(yīng)的離子活度范圍稱為離子選擇性電極的線性范圍。