單項(xiàng)選擇題滲透檢測(cè)法適用于檢驗(yàn)的缺陷是（）。
A.表面開(kāi)口缺陷
B.近表面缺陷
C.內(nèi)部缺陷
D.以上都對(duì)
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1.單項(xiàng)選擇題工件中缺陷的取向與X射線入射方向（）時(shí)，在底片上能獲得最清晰的缺陷影像。
A.垂直
B.平行
C.傾斜45°
D.都可以
2.單項(xiàng)選擇題X射線照相的主要目的是（）。
A.檢驗(yàn)晶粒度
B.檢驗(yàn)表面質(zhì)量
C.檢驗(yàn)內(nèi)部質(zhì)量
D.以上全是
3.單項(xiàng)選擇題X射線照相檢測(cè)工藝參數(shù)主要是（）。
A、焦距
B、管電壓、管電流
C、曝光時(shí)間
D、以上都是
4.單項(xiàng)選擇題10居里鈷60γ射線源衰減到1.25居里，需要的時(shí)間約為（）。
A.5年
B.1年
C.16年
D.21年
5.單項(xiàng)選擇題射線檢測(cè)法適用于檢驗(yàn)的缺陷是（）。
A.鍛鋼件中的折疊
B.鑄件金屬中的氣孔
C.金屬板材中的分層
D.金屬焊縫中的夾渣
E.b和d
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鐵磁材料達(dá)到居里點(diǎn)時(shí)，會(huì)發(fā)生什么現(xiàn)象（）
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