A.預(yù)清洗
B.乳化
C.對顯示跡痕的判斷與解釋
D.滲透劑的清除
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A.對于微細(xì)裂紋的顯示,厚的顯示劑涂層比薄的涂層更為清晰
B.黑色顯示劑的反差比白色顯示劑好
C.應(yīng)使用壓縮空氣清除多余的顯示劑
D.對于微細(xì)裂紋的顯示,薄的顯示劑涂層比的厚涂層更為清晰
A.測定滲透劑的粘度
B.測量滲透劑的潤濕能力
C.在具有人工裂紋的A型鋁合金試塊或B型鍍鉻試塊上通過對比試驗(yàn)確定
D.上述方法都需要
A.溶劑去除型熒光滲透法
B.溶劑去除型著色滲透法
C.后乳化型熒光滲透法
D.后乳化型著色滲透法
A.只需見到缺陷顯示,不一定非要在施加顯像劑10-15分鐘后進(jìn)行跡痕解釋和評定
B.為保證著色探傷中檢查細(xì)微缺陷的需要,被檢零件的照度應(yīng)不超過200Lx
C.熒光探傷時(shí)暗室中的白光強(qiáng)度應(yīng)不超過5Lx
D.以上說法都不對
A.酸洗
B.打磨
C.噴砂
D.蒸氣除油
最新試題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
儀器水平線性影響()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。