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你可能感興趣的試題
A.考試方式包括筆試、操作考試以及必要的口試；考試內(nèi)容包括基礎(chǔ)技術(shù)和專業(yè)技術(shù)兩個(gè)部分
B.只要筆試和操作考試在80分以上，就免予口試
C.共培訓(xùn)練習(xí)用的試塊也可作為考試試樣
D.技術(shù)資格合格，筆試和操作考試平均在80分以上，報(bào)考人員就可以取得II級(jí)資格證書
A.試片厚度為15/100mm
B.槽深為15/100mm
C.試片厚度100微米，槽深15微米
D.槽寬15微米，槽深100微米
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
儀器水平線性影響（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。