A、小焦點(diǎn)比大焦點(diǎn)好
B、大焦點(diǎn)比小焦點(diǎn)好
C、圓焦點(diǎn)比方焦點(diǎn)好
D、方焦點(diǎn)比圓焦點(diǎn)好
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A.線質(zhì)變硬，強(qiáng)度不變，波長(zhǎng)
B.線質(zhì)不變，強(qiáng)度增加，波長(zhǎng)不變
C.線質(zhì)變軟，強(qiáng)度降低，波長(zhǎng)變長(zhǎng)
D.線質(zhì)不變，強(qiáng)度降低，波長(zhǎng)變長(zhǎng)
A.峰值電壓
B.平均值電壓
C.有效值電壓
D.均方根值電壓
A、250kV
B、350kV
C、3500kV
D、282kV
A.200kV峰值
B.200kV平均值
C.200kV有效值
D.200kV均方根值
A.窄束是散射線和未散射線均到達(dá)檢測(cè)器，而寬束是指只有未散射的射線到達(dá)檢測(cè)器
B.窄束是指只有未散射的射線到達(dá)檢測(cè)器，而寬束是散射線和未散射線均到達(dá)檢測(cè)器
C.窄束和寬束只與源的尺寸有關(guān)
D.窄束和寬束均取決于膠片和屏的配合
最新試題
高速電子與陽極靶的（）作用，產(chǎn)生靶材的標(biāo)識(shí)X射線。
下述無損檢測(cè)方法中，能夠檢測(cè)鍛件白點(diǎn)缺陷的方法是（）
對(duì)于核反應(yīng)堆的核燃料質(zhì)量檢查，較適宜的無損檢測(cè)方法是（）。
高速電子受到陽極靶的（）阻止而產(chǎn)生連續(xù)X射線。
下述有關(guān)咬邊缺陷產(chǎn)生原因的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）
電子的能級(jí)最高的是（）。
熒光磁粉顯示應(yīng)在（）光線下檢驗(yàn)。
以下關(guān)于內(nèi)力和應(yīng)力的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）
下述無損檢測(cè)中，能夠檢測(cè)鍛件折疊缺陷的方法是（）
射線檢測(cè)適用對(duì)象為（）。