A.單探頭法
B.并列式檢測(cè)
C.串列式檢測(cè)
D.交叉式檢測(cè)
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你可能感興趣的試題
A.與探測(cè)面成某一角度的缺陷
B.與波束軸線垂直的片狀缺陷和立體狀缺陷
C.與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷
D.與探測(cè)面垂直的橫向缺陷
A.表面波法
B.縱波法
C.導(dǎo)波法
D.橫波法
A.內(nèi)部缺陷
B.表面缺陷
C.近表面缺陷
D.內(nèi)部和表面缺陷
A.表面波法
B.縱波法
C.爬波法
D.橫波法
A.表面波法
B.縱波法
C.爬波法
D.橫波法
最新試題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。