A、子系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試都兼有檢測(cè)和組裝雙重含義，通常稱為集成測(cè)試
B、子系統(tǒng)測(cè)試和模塊測(cè)試都兼有檢測(cè)和組裝雙重含義，通常稱為集成測(cè)試
C、子系統(tǒng)測(cè)試和平行測(cè)試都兼有檢測(cè)和組裝雙重含義，通常稱為集成測(cè)試
D、子系統(tǒng)測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試都兼有檢測(cè)和組裝雙重含義，通常稱為集成測(cè)試
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、驗(yàn)收測(cè)試著重測(cè)試模塊的接口
B、模塊測(cè)試著重測(cè)試模塊的接口
C、平行測(cè)試著重測(cè)試模塊的接口
D、子系統(tǒng)測(cè)試著重測(cè)試模塊的接口
A、驗(yàn)收測(cè)試通常又稱為單元測(cè)試
B、系統(tǒng)測(cè)試通常又稱為單元測(cè)試
C、平行測(cè)試通常又稱為單元測(cè)試
D、模塊測(cè)試通常又稱為單元測(cè)試
A、對(duì)于功能測(cè)試的效率，主要依賴于建立測(cè)試所需數(shù)據(jù)的工作量大小
B、對(duì)于功能測(cè)試的效率，主要依賴于應(yīng)用的復(fù)雜度、窗口的個(gè)數(shù)，以及每個(gè)窗口中的動(dòng)作數(shù)目
C、對(duì)于功能測(cè)試的效率，主要依賴于軟件編寫的質(zhì)量
D、對(duì)于功能測(cè)試的效率，主要依賴于軟件的邏輯復(fù)雜程度
A、zero-bug
B、none-bug
C、good-enough
D、best-enough
A、指軟件產(chǎn)品生命周期內(nèi)所有的檢查、評(píng)審和確認(rèn)活動(dòng)
B、對(duì)軟件產(chǎn)品功能的檢查和評(píng)價(jià)
C、對(duì)軟件產(chǎn)品質(zhì)量的檢驗(yàn)和評(píng)價(jià)
D、對(duì)軟件產(chǎn)品是否存在bug的檢驗(yàn)
最新試題
以下哪項(xiàng)屬于SQL Server數(shù)據(jù)庫(kù)資源監(jiān)控指標(biāo)（）
下面關(guān)于錯(cuò)誤推測(cè)法說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）
基本路徑測(cè)試法中程序環(huán)境復(fù)雜性的含義是（）
以下不屬于判定表建立步驟的是（）
RUP軟件測(cè)試流程最后的測(cè)試步驟是（）
Quest Central for Database數(shù)據(jù)庫(kù)監(jiān)控工具不能管理以下哪種數(shù)據(jù)庫(kù)（）
編寫功能需求規(guī)格說(shuō)明時(shí)不需要描述的是（）
編寫功能需求文檔時(shí)以下描述錯(cuò)誤的是（）
對(duì)于軟件開發(fā)者而言軟件測(cè)試是為了（）
TestManager使用時(shí)首先需要（）