A.縱向磁場、橫向缺陷
B.周向磁場、縱向缺陷
C.縱向磁場、縱向缺陷
D.周向磁場、橫向缺陷
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.表面裂紋形成的強
B.近表面裂紋形成的強
C.兩者無區(qū)別
D.上述都不對
A.材料被磁化難易程度
B.材料中磁場的穿透深度
C.工件需要退磁時間的長短
D.保留磁場的能力
A.檢測非鐵磁性材料表面和近表面缺陷
B.檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷
C.檢測鐵磁性材料內(nèi)部缺陷
D.各種不同材料的分選
A.探測熱影響區(qū)裂縫
B.探測可能影響斜探頭探測結(jié)果的分層
C.提高焊縫兩側(cè)母材驗收標準,以保證焊縫質(zhì)量
D.以上都對
A.讓工件充分冷卻
B.焊縫材料組織需穩(wěn)定
C.冷裂紋有延時產(chǎn)生的特點
D.以上都對
最新試題
在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會出現(xiàn)()等信號波,需要仔細判別。
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
射線照片上細節(jié)影像的可識別性主要決定于()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()