A、C1>C2
B、C1
D、Z1=Z2
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、在有機(jī)玻璃斜楔塊中產(chǎn)生
B、從晶片上直接產(chǎn)生
C、在有機(jī)玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生
D、在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生
A.介質(zhì)對超聲波的吸引
B.介質(zhì)對超聲波的散射
C.聲束擴(kuò)散
D.以上全部
A、14.7°~27.7°
B、62.3°~75.3°
C、27.2°~56.7°
D、不受限制
A、1.45mm
B、0.20mm
C、0.7375mm
D、0.24mm
A、在工件中得到純橫波
B、得到良好的聲束指向性
C、實(shí)現(xiàn)聲束聚焦
D、減少近場區(qū)的影響
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。