A.提高探頭聲束指向性
B.校準(zhǔn)儀器掃描線性
C.提高探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定精度
D.以上都對(duì)
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A.側(cè)面反射波帶來(lái)干涉
B.探頭太大，無(wú)法移至邊緣
C.頻率太高
D.以上都不是
A.小K值探頭
B.大K值探頭
C.軟保護(hù)膜探頭
D.高頻探頭
A.大
B.小
C.相同
D.以上都可以
A.大
B.小
C.相同
D.以上都可以
A.大
B.小
C.相同
D.以上都可以
最新試題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。