A.草狀回波增多
B.信噪比下降
C.底波次數(shù)減少
D.以上全部
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.耦合層厚度,超聲波在耦合介質(zhì)中的波長及耦合介質(zhì)聲阻抗
B.探頭接觸面介質(zhì)聲阻抗
C.工件被探測面材料聲阻抗
D.以上都對
A.缺陷回波
B.底波或參考回波的減弱或消失
C.接收探頭接收到的能量的減弱
D.AB都對
A.兩個缺陷當量相同
B.材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當量小
C.材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當量小
D.以上都不對
A.40%
B.20%
C.10%
D.5%
A.底面回波
B.底面二次回波
C.缺陷回波
D.遲到回波
最新試題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
()可以對管路、管道進行長距離檢測。
單探頭法容易檢出()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。