A.高階勞厄斑；
B.超結(jié)構(gòu)斑點(diǎn)；
C.二次衍射斑；
D.孿晶斑點(diǎn)
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A.球面外；
B.球面上；
C.球面內(nèi)；
D.B+C。
A.尺寸很小的倒易點(diǎn)；
B.尺寸很大的球；
C.有一定長(zhǎng)度的倒易桿；
D.倒易圓盤。
A.規(guī)則的平行四邊形斑點(diǎn)；
B.同心圓環(huán)；
C.暈環(huán)；
D.不規(guī)則斑點(diǎn)。
A.物鏡的物平面；
B.物鏡的像平面
C.物鏡的背焦面；
D.物鏡的前焦面。
A.中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合；
B.中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合；
C.關(guān)閉中間鏡；
D.關(guān)閉物鏡。
最新試題
熱分析中對(duì)樣品的重量沒(méi)有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測(cè)試結(jié)果。
X射線衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。
與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強(qiáng)，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。
當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個(gè)圓環(huán)，環(huán)上每一點(diǎn)都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。
電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。
粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。
關(guān)于X射線衍射儀的測(cè)量動(dòng)作，說(shuō)法正確的是（）。
利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過(guò)調(diào)節(jié)（）的位置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。