問答題什么是消光距離？影響晶體消光距離的主要物性參數(shù)和外界條件是什么？
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在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。
題型：判斷題
拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實(shí)驗(yàn)操作有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型：判斷題
電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。
題型：單項(xiàng)選擇題
掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。
題型：單項(xiàng)選擇題
與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強(qiáng)，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。
題型：單項(xiàng)選擇題
差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。
題型：多項(xiàng)選擇題