單項(xiàng)選擇題晶體屬于立方晶系，一晶面截x軸于a/2、y軸于b/3、z軸于c/4，則該晶面的指標(biāo)為（）
A、（364）
B、（234）
C、（213）
D、（468）
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1.單項(xiàng)選擇題對(duì)于底心斜方晶體，產(chǎn)生系統(tǒng)消光的晶面有（）
A、112
B、113
C、101
D、111
2.單項(xiàng)選擇題對(duì)于面心立方晶體，產(chǎn)生系統(tǒng)消光的晶面有（）
A、200
B、220
C、112
D、111
3.問(wèn)答題簡(jiǎn)述特征X射線產(chǎn)生的物理機(jī)制。
4.問(wèn)答題簡(jiǎn)述連續(xù)X射線產(chǎn)生實(shí)質(zhì)。
5.問(wèn)答題簡(jiǎn)述X射線產(chǎn)生的基本條件。
最新試題
在紅外光譜分析中，基本振動(dòng)區(qū)是指（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測(cè)定材料在恒溫過(guò)程中發(fā)生的變化。
題型：判斷題
掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
題型：判斷題
掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。
題型：判斷題
差熱分析中，若試樣沒(méi)有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
題型：判斷題
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過(guò)調(diào)節(jié)（）的位置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
紅外光分為（）。
題型：多項(xiàng)選擇題