A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
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A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
A、第二聚光鏡光闌
B、物鏡光闌
C、選區(qū)光闌
D、索拉光闌
A、電子源
B、會(huì)聚電子束
C、形成第一副高分辨率電子顯微圖像
D、進(jìn)一步放大物鏡像
A、電子源
B、會(huì)聚電子束
C、形成第一副高分辨率電子顯微圖像
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A、電子源
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C、形成第一副高分辨率電子顯微圖像
D、進(jìn)一步放大物鏡像
最新試題
在電子探針中，測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡(jiǎn)寫(xiě)為（）。
電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。
在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。
差熱分析中，若試樣沒(méi)有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。
在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測(cè)定材料在恒溫過(guò)程中發(fā)生的變化。
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說(shuō)法正確的是（）。
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個(gè)圓環(huán)，環(huán)上每一點(diǎn)都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。
（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。
X射線衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。