A.陰極靈敏度
B.陽(yáng)極靈敏度
C.暗電流
D.時(shí)間特性
E.伏安特性
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A.測(cè)輻射熱計(jì)
B.測(cè)輻射熱電偶
C.測(cè)輻射熱電堆
D.熱釋電探測(cè)器
E.高萊管
A.黑白CCD
B.可見(jiàn)光CCD
C.X射線CCD
D.彩色CCD
E.微光CCD
A.光電三極管
B.光電池
C.光敏電阻
D.半導(dǎo)體激光器
A.近紅外線
B.中紅外線
C.遠(yuǎn)紅外線
D.極遠(yuǎn)紅外線
A.禁帶
B.滿帶
C.導(dǎo)帶
D.價(jià)帶
最新試題
以下不屬于光纖干涉儀的有（）。
下列哪些儀器可以用于波帶板激光準(zhǔn)直應(yīng)用？（）
成像測(cè)量法存在的問(wèn)題，是當(dāng)物體沿景深方向移動(dòng)時(shí)，會(huì)造成放大倍率的變化，這會(huì)（）測(cè)量精度。因此，需要解決自動(dòng)調(diào)焦的問(wèn)題。
在紅外數(shù)字計(jì)數(shù)器中，每當(dāng)物件通過(guò)紅外對(duì)射管中間一次，紅外光被遮擋一次，光電接收管的輸出電壓就發(fā)生一次變化。
CMOS的字母C的英文單詞是（）。
半導(dǎo)體激光器在激光外徑掃描儀中起到提供光源的作用。
下列應(yīng)用屬于光度測(cè)量方法應(yīng)用的是（）。
對(duì)于相干檢測(cè)方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號(hào)檢測(cè)的對(duì)比度和增大交變分量的幅值。
計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測(cè)方法的關(guān)注點(diǎn)是（）。
以下屬于光電檢測(cè)儀器的有（）。