A.ID
B.IG
C.OD
D.OG
E.MOS
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A.線狀
B.球狀
C.帶狀
D.連續(xù)
E.混合
A.熱輻射
B.氣體發(fā)光
C.固體發(fā)光
D.激光
E.顯示
A.受激輻射
B.自發(fā)輻射
C.熱輻射
D.電流
A.負(fù)電子親和勢(shì)陰極；
B.電子光學(xué)系統(tǒng)；
C.微通道板MCP；
D.光纖面板；
A.高反向偏壓
B.低正向偏壓
C.高正向偏壓
D.低反向偏壓
最新試題
在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路時(shí)，需解決下面（）的動(dòng)態(tài)計(jì)算問題。
在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路頻率特性時(shí)，應(yīng)包括下列（）基本內(nèi)容。
以下主要利用光電子發(fā)射效應(yīng)的光電器件有（）。
以下效應(yīng)可用于普朗克常量測(cè)量的是（）。
紅外檢測(cè)技術(shù)是集光電成像、計(jì)算機(jī)技術(shù)、圖像處理于一身的綜合光電檢測(cè)技術(shù)。
以下不能用傅里葉變換光譜儀測(cè)量的是（）。
成像測(cè)量法存在的問題，是當(dāng)物體沿景深方向移動(dòng)時(shí)，會(huì)造成放大倍率的變化，這會(huì)（）測(cè)量精度。因此，需要解決自動(dòng)調(diào)焦的問題。
軸向測(cè)距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的（）等方面。
幾何變換的光電檢測(cè)方法，是利用光束傳播的（）、成像等光學(xué)變換方法進(jìn)行的光電檢測(cè)和控制。
具有光伏型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括（）。