單項(xiàng)選擇題在調(diào)制分析中,線圈的激勵(lì)頻率是由什么來(lái)調(diào)制的?()

A.物體電導(dǎo)率;
B.物體尺寸;
C.物體缺陷;
D.以上都是.


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題調(diào)制定義為().

A.將儀器讀數(shù)與一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)比較的過(guò)程;
B.按照渦流響應(yīng)對(duì)物體分類的過(guò)程;
C.對(duì)于恒定的量施加一個(gè)可變影響的過(guò)程;
D.線圈磁化力增加不再能使材料磁通密度增大的點(diǎn)

2.單項(xiàng)選擇題化學(xué)成份、合金變化和熱處理變化通常所具有的頻率調(diào)制是().

A.低的;
B.中等的
C.高的;
D.非常高.

3.單項(xiàng)選擇題調(diào)制分析的主要局限性是,這種系統(tǒng)基于().

A.靜態(tài)試驗(yàn);
B.運(yùn)動(dòng)試驗(yàn);
C.絕對(duì)線圈排列;
D.差動(dòng)線圈排列.

4.單項(xiàng)選擇題進(jìn)行調(diào)制分析試驗(yàn)時(shí),試驗(yàn)線圈的類型().

A.必須是差動(dòng)式的
B.必須是絕對(duì)式的
C.可以是任意型的
D.a和b最好

5.單項(xiàng)選擇題在陰極射線管橢圓法試驗(yàn)中().

A.當(dāng)施加在偏轉(zhuǎn)板上的兩個(gè)電壓相位差90°時(shí),出現(xiàn)直線示蹤;
B.試樣中存在裂紋時(shí)將產(chǎn)生相位移;
C.棒材直徑變化不能與裂紋影響區(qū)分開(kāi);
D.垂直偏轉(zhuǎn)板上無(wú)電壓時(shí),熒光屏上將出現(xiàn)一個(gè)圓

最新試題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無(wú)論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。

題型:判斷題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題

二次打底焊接或重熔排除,無(wú)需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。

題型:判斷題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。

題型:判斷題