在可靠性設(shè)計(jì)中，影響可靠度大小的積分極限
，該方程稱為（），由該方程可看出Z，不但取決于傳統(tǒng)設(shè)計(jì)的安全系數(shù)us/ul，同時(shí)還取決于Xl，Xs的離散程度σs與σl，Z稱為可靠系數(shù)（概率安全系數(shù)）。
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最新試題
已知一元件壽命服從指數(shù)分布，平均壽命θ為100h，則其工作1小時(shí)可靠性是其工作100小時(shí)可靠性的多少倍（）
下列關(guān)于可維護(hù)性的陳述當(dāng)中哪一個(gè)是真實(shí)的（）
四個(gè)壽命分布為指數(shù)分布的獨(dú)立單元構(gòu)成一個(gè)串聯(lián)系統(tǒng)，每個(gè)單元的MTBF分別為：300、500、250和150小時(shí)。若要求新系統(tǒng)的MTBF為10小時(shí)，試按比例將MTBF分至各單元，并計(jì)算新系統(tǒng)各單元工作10小時(shí)時(shí)的系統(tǒng)可靠度。
應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開發(fā)的（）
為了驗(yàn)證開發(fā)的產(chǎn)品的可靠性是否與規(guī)定的可靠性要求一致，用具有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下所做的試驗(yàn)叫（）試驗(yàn)。
采用儲備模型可以提高產(chǎn)品的任務(wù)可靠性，但會降低其基本可靠性
系統(tǒng)可靠性框圖如下所示：要求：1）畫出相應(yīng)的故障樹，寫出最小割集表達(dá)式；2）計(jì)算各底事件的結(jié)構(gòu)重要度并給出分析結(jié)論。
已知某系統(tǒng)故障的故障樹如下圖所示，其元件MTBF均為2000小時(shí)，服從指數(shù)分布。1）求出最小割集；2）預(yù)計(jì)該系統(tǒng)工作100小時(shí)的可靠度。
可靠性試驗(yàn)可以分為工程試驗(yàn)和（）
什么是可靠性，可靠性的最主要的指標(biāo)有哪些？