A.電離室的方向性、桿效應(yīng)及溫度氣壓的影響
B.電離室的工作電壓、桿效應(yīng)及溫度氣壓的影響
C.電離室的工作電壓、方向性、桿效應(yīng)及溫度氣壓的影響
D.電離室的工作電壓、方向性、桿效應(yīng)及溫度氣壓的影響
E.電離室的工作電壓、方向性、一致性及溫度氣壓的影響
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A.空氣劑量計(jì)、半導(dǎo)體劑量計(jì)、膠片劑量計(jì)、熒光板
B.熱釋光劑量?jī)x、半導(dǎo)體劑量計(jì)、膠片劑量計(jì)、光電倍增管
C.電離室型劑量?jī)x、半導(dǎo)體劑量計(jì)、熱釋光劑量?jī)x、膠片劑量計(jì)
D.非晶硅探測(cè)器、電離室型劑量?jī)x、半導(dǎo)體劑量計(jì)、膠片劑量計(jì)
E.熒光板、半導(dǎo)體劑量計(jì)、膠片劑量計(jì)、熱釋光劑量?jī)x
A.加上俄歇電子的能量時(shí)
B.加上韌致輻射損失的能量時(shí)
C.忽略韌致輻射損失的能量時(shí)
D.忽略俄歇電子的能量時(shí)
E.加上俄歇電子和韌致輻射損失的能量時(shí)
在電子平衡條件下,如果空氣中照射量X為228.2倫琴(1R=2.58×10-4C/kg),則其比釋動(dòng)能K為()
A.100cGy
B.150cGy
C.180cGy
D.200cGy
E.250cGy
A.100cGy
B.150cGy
C.180cGy
D.200cGy
E.250cGy
A.介質(zhì)內(nèi)的吸收劑量隨介質(zhì)表面下的深度增加而減少,直到吸收劑量達(dá)到最小
B.介質(zhì)內(nèi)的吸收劑量隨介質(zhì)表面下的深度增加而增加,直到吸收劑量達(dá)到最大
C.介質(zhì)內(nèi)的吸收劑量隨介質(zhì)表面下的深度增加先增加然后減少,直到吸收劑量達(dá)到最小
D.介質(zhì)內(nèi)的吸收劑量隨介質(zhì)表面下的深度增加而增加,直到吸收劑量達(dá)到最小
E.介質(zhì)內(nèi)的吸收劑量隨介質(zhì)表面下的深度增加而減少,直到吸收劑量達(dá)到最大
最新試題
射野擋鉛的主要目的是()
電子射程的含義為()
目前人體曲面的校正方法主要有()
對(duì)60鈷的γ射線和加速器的6MV的X射線所使用的低熔點(diǎn)鉛厚度一般是()
使用高能電子束照射時(shí),其PDD隨射野面積變化的關(guān)系是()
放療機(jī)房屏蔽設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)當(dāng)考慮的因素()
電子線穿過(guò)物質(zhì)時(shí)()
放射工作人員的年劑量當(dāng)量是指一年內(nèi)()
高能電子束的PDD曲線可大致分為()
為了防止隨機(jī)性效應(yīng),放射工作人員受到全身均勻照射時(shí)的年劑量當(dāng)量()